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絞り込み測光

2019.04.05

開放測光の対義語。

 

一眼レフカメラのTTL測光において、露出計を動作させる際に絞りを実際の撮影時の値まで絞り込む必要がある機構のこと。

 

M42マウントのようにレンズとボディの間で絞り値の伝達が難しい機種で用いられた。

 

1960年代が最盛期で、有名メーカーではPENTAX、Canon、FUJIFILMなどが採用。

 

1970年代中盤には廃れた。

 

→開放測光

 

 

 

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